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BAF6帶檢測(cè)長(zhǎng)按3秒延時(shí)復(fù)位開關(guān)芯片

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掃一掃!BAF6帶檢測(cè)長(zhǎng)按3秒延時(shí)復(fù)位開關(guān)芯片掃一掃!
瀏覽:- 發(fā)布日期:2026-01-31 15:52:41【

BAF6延時(shí)復(fù)位芯片是一款采用SOT23-6微型封裝的高效控制集成電路,專為便攜式電子設(shè)備和低功耗系統(tǒng)設(shè)計(jì)。其核心功能是通過雙路信號(hào)同步輸出來(lái)實(shí)現(xiàn)智能開關(guān)/復(fù)位控制,在2.4-5.0V寬電壓范圍內(nèi)保持穩(wěn)定工作特性。

一、功能實(shí)現(xiàn)機(jī)制 1. 電平控制邏輯 上電初始化時(shí),OUTH端口輸出低電平(≤0.3VDD),OUTL端口輸出高電平(≥0.7VDD)。這種默認(rèn)狀態(tài)確保系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)的安全隔離。當(dāng)PB鍵被持續(xù)按壓3秒后,芯片進(jìn)入工作模式,此時(shí)OUT端口將輸出550ms的標(biāo)準(zhǔn)脈沖信號(hào)。該脈沖寬度經(jīng)過精密RC振蕩電路校準(zhǔn),誤差范圍控制在±2%以內(nèi)。

2. 狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng) 在OUT脈沖輸出的550ms窗口期內(nèi),KILL引腳(第5腳)會(huì)啟動(dòng)電平檢測(cè)電路。若檢測(cè)到高電平(≥2.0V@5V供電),芯片將維持當(dāng)前輸出狀態(tài);反之則自動(dòng)觸發(fā)輸出反轉(zhuǎn)進(jìn)入關(guān)機(jī)流程。這個(gè)檢測(cè)過程采用施密特觸發(fā)器設(shè)計(jì),具有0.1V的遲滯電壓,能有效消除噪聲干擾。

3. 雙重關(guān)機(jī)策略 系統(tǒng)支持兩種關(guān)機(jī)方式:一是通過長(zhǎng)按PB鍵3秒觸發(fā)軟關(guān)機(jī);二是當(dāng)KILL引腳的高電平信號(hào)消失時(shí)立即執(zhí)行硬關(guān)機(jī)。關(guān)機(jī)過程中,芯片內(nèi)部MOS管會(huì)在15μs內(nèi)完成輸出隔離,確保無(wú)電流倒灌現(xiàn)象。

國(guó)產(chǎn)復(fù)位IC芯片


二、復(fù)位芯片電氣特性詳解 1. 功耗管理 • 動(dòng)態(tài)工作電流:典型值3.5mA@5V,隨供電電壓線性變化(2.4V時(shí)降至1.8mA) • 靜態(tài)功耗:深度休眠模式下僅3.5μA,采用專利的漏電流抑制技術(shù) • 電源紋波抑制比:≥60dB@100Hz-1MHz

2. 驅(qū)動(dòng)能力參數(shù) • 低電平輸出時(shí):可提供15mA灌電流(VOL≤0.4V@5V) • 高電平輸出時(shí):具有10mA拉電流能力(VOH≥4.6V@5V) • 轉(zhuǎn)換速率:上升/下降時(shí)間均<50ns(10pF負(fù)載)

3. 環(huán)境適應(yīng)性 工作溫度范圍內(nèi)(-40℃~+85℃)的關(guān)鍵參數(shù)漂移: • 輸出電壓波動(dòng):≤±1.5% • 定時(shí)精度變化:≤±3% • 輸入閾值漂移:≤±50mV

三、典型應(yīng)用電路 1. 鋰電池管理系統(tǒng) 建議在VBAT端接入0.1μF陶瓷電容(X7R材質(zhì))進(jìn)行電源去耦。當(dāng)用作電源開關(guān)時(shí),OUTH可驅(qū)動(dòng)P溝道MOSFET(如AO3401),柵極串聯(lián)10Ω電阻以抑制振鈴。

2. 復(fù)位電路配置 與MCU配合使用時(shí),KILL引腳應(yīng)連接處理器GPIO。推薦在OUTL與MCU復(fù)位引腳間加入100nF電容,形成RC延時(shí)網(wǎng)絡(luò)(時(shí)間常數(shù)約10ms),增強(qiáng)抗干擾性。

3. 工業(yè)控制接口 在24V系統(tǒng)應(yīng)用中,需通過3.3kΩ電阻分壓將KILL信號(hào)降至芯片識(shí)別范圍。輸出端可選用光耦隔離(如PC817),實(shí)現(xiàn)4000Vrms的電氣隔離。

四、可靠性驗(yàn)證數(shù)據(jù) 1. 加速壽命測(cè)試 • 1000次開關(guān)循環(huán)后參數(shù)變化:定時(shí)誤差<±0.5% • 85℃/85%RH環(huán)境下500小時(shí):無(wú)引腳氧化現(xiàn)象 • ESD防護(hù)等級(jí):HBM模式通過±8kV測(cè)試

2. 失效模式分析 常見異常情況處理: • 電源反接:內(nèi)部集成反向二極管,可承受100mA/1s沖擊 • 輸出短路:自動(dòng)進(jìn)入限流保護(hù)模式(25mA恒流) • 過溫保護(hù):結(jié)溫>150℃時(shí)觸發(fā)關(guān)斷,滯后20℃恢復(fù)

五、封裝與裝配指南 1. SOT23-6引腳定義 1: VDD 2: PB 3: OUTH 4: GND 5: KILL 6: OUTL

2. 回流焊曲線建議 • 預(yù)熱區(qū):120-180℃,60-90秒 • 回流區(qū):峰值245℃(無(wú)鉛),持續(xù)時(shí)間<30秒 • 冷卻速率:<3℃/秒

3. 布局注意事項(xiàng) • 關(guān)鍵信號(hào)線長(zhǎng)度應(yīng)<10mm • 避免在芯片下方布置高頻走線 • 建議采用4層板設(shè)計(jì)時(shí),在底層設(shè)置完整地平面

六、版本演進(jìn)記錄 V1.1(2025Q3)優(yōu)化項(xiàng)目: • 增加輸出級(jí)ESD保護(hù)二極管 • 改進(jìn)內(nèi)部LDO穩(wěn)定性 • 修正550ms定時(shí)器的溫度系數(shù)

國(guó)產(chǎn)復(fù)位芯片已通過FCC Part 15 Class B認(rèn)證,符合RoHS 2.0環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)。批量供貨周期為6-8周,提供完整的IBIS模型和SPICE仿真參數(shù)。對(duì)于特殊應(yīng)用需求,可定制修改定時(shí)時(shí)長(zhǎng)(200ms-2s可調(diào))和輸出極性配置。

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